半導(dǎo)體高低溫測試機也稱為氣體制冷加熱控溫系統(tǒng)、高低溫沖擊氣流儀、熱流儀等,采用流體溫度控制技術(shù),在元器件半導(dǎo)體行業(yè)進(jìn)行各種溫度測試模擬應(yīng)用,控溫范圍-92℃~250℃,具有寬的溫度方向和高溫升降,適用于各種測試要求。
冠亞制冷半導(dǎo)體高低溫測試機適用于電子元件的準(zhǔn)確溫度控制,在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子組件制造中,IC封裝組裝、工程和生產(chǎn)測試階段包括電子熱測試和其他溫度(-45℃至+250℃)下的環(huán)境測試模擬。一旦投入實際使用,這些半導(dǎo)體器件和電子產(chǎn)品可以暴露在嚴(yán)苛的環(huán)境條件下,以滿足苛刻的可靠性標(biāo)準(zhǔn)。
一、高精度制冷加熱控溫系統(tǒng)
溫度控制范圍:-85℃~+250℃
溫度控制精度:±0.3℃
應(yīng)用領(lǐng)域:研究院、航空航天、半導(dǎo)體和電氣工業(yè)、大學(xué)、新材料工業(yè)、IC芯片測試、電路板、元器件測試等領(lǐng)域。
溫度范圍以及型號:
TES-45℃~250℃:TES-4525、TES-4525W、TES-4555、TES-4555W等;
TES-85℃~200℃:TES-8525W、TES-8555W等;
TES-60℃~200℃:TES-6A15WPEX、TES-6A15WDEX、TES-6A25WPEX、TES-6A25WDEX、TES-6A45WPEX、TES-6A45WDEX、TES-6A60WPEX、TES-6A60WDEX;
二、氟化液制冷加熱控溫系統(tǒng)
溫度控制范圍:-80℃~+80℃
溫度控制精度:±0.1℃
應(yīng)用于半導(dǎo)體和電氣工業(yè)、新材料工業(yè)、IC芯片測試、電路板、元器件測試等領(lǐng)域。
溫度范圍以及型號:
LTS-20℃~80℃ :LTS-202、LTS-202W、LTS-203W、LTS-204W、LTS-206W、 LTS-203、LTS-204、 LTS-206、 LTS-208、LTS-208W;
LTS-40℃~80℃ :LTS-402、LTS-403、 LTS-404、 LTS-406、 LTS-408、LTS-402W、 LTS-403W、 LTS-404W、 LTS-406W、 LTS-408W;
LTS-60℃~80℃ :LTS-602、 LTS-603、 LTS-604、 LTS-606、 LTS-608、LTS-602W、 LTS-603W、 LTS-604W、 LTS-606W、 LTS-608W;
LTS-80℃~80℃:LTS-802、 LTS-803、 LTS-804、 LTS-806、 LTS-808、LTS-802W、 LTS-803W、 LTS-804W、 LTS-806W、 LTS-808W;
三、高低溫沖擊測試機
溫度控制范圍:-115℃~+225℃
溫度控制精度:±0.5℃
射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供準(zhǔn)確且快速的環(huán)境溫度。是對產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評估的儀器設(shè)備。
溫度范圍以及型號:
-45℃~225℃:AES-4535、AES-4535W;
-60℃~225℃:AES-6035;
-80℃~225℃:AES-8035W ;
-100℃~225℃: AES-A1035W;
-115℃~225℃:AES-A1235W;
四、AI循環(huán)風(fēng)控制系統(tǒng)
溫度控制范圍:-105℃~+125℃
溫度控制精度:±0.2℃
應(yīng)用于半導(dǎo)體設(shè)備高低溫測試;電子設(shè)備高溫、低溫、恒溫測試?yán)錈嵩?;獨立的制冷循環(huán)風(fēng)機組;可連續(xù)長時間工作,自動除霜,除霜過程不影響庫溫。
溫度范圍以及型號:
-65℃~+125℃:AI-6535、AI-6535W ;
-80℃~+125℃:AI-8035W
-105℃~+125℃:AI-1055W
五、小型氣體制冷機
溫度控制范圍:-110℃~-40℃
應(yīng)用于將無腐蝕性氣體降溫使用,如干燥壓縮空氣、氮氣、氬氣等常溫氣體通入到LQ系列設(shè)備內(nèi)部,出來的氣體即可達(dá)到目標(biāo)低溫溫度,供給需求測試的元件或者換熱器中。