簡(jiǎn)要描述:【無(wú)錫冠亞】半導(dǎo)體控溫解決方案主要產(chǎn)品包括半導(dǎo)體專(zhuān)?溫控設(shè)備、射流式?低溫沖擊測(cè)試機(jī)和半導(dǎo)體??藝廢?處理裝置等?設(shè)備,?泛應(yīng)?于半導(dǎo)體、LED、LCD、太陽(yáng)能光伏等領(lǐng)域。-65循環(huán)風(fēng)控溫裝置 射流式?低溫沖擊測(cè)試機(jī)
品牌 | LNEYA/無(wú)錫冠亞 | 冷卻方式 | 水冷式 |
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價(jià)格區(qū)間 | 10萬(wàn)-50萬(wàn) | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
儀器種類(lèi) | 一體式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,制藥,汽車(chē) |
主要產(chǎn)品包括半導(dǎo)體專(zhuān)?溫控設(shè)備、射流式?低溫沖擊測(cè)試機(jī)和半導(dǎo)體??藝廢?處理裝置等?設(shè)備,
?泛應(yīng)?于半導(dǎo)體、LED、LCD、太陽(yáng)能光伏等領(lǐng)域。
半導(dǎo)體專(zhuān)溫控設(shè)備
射流式?低溫沖擊測(cè)試機(jī)
半導(dǎo)體專(zhuān)用溫控設(shè)備chiller
Chiller氣體降溫控溫系統(tǒng)
Chiller直冷型
循環(huán)風(fēng)控溫裝置
半導(dǎo)體?低溫測(cè)試設(shè)備
電?設(shè)備?溫低溫恒溫測(cè)試?yán)錈嵩?/span>
射流式高低溫沖擊測(cè)試機(jī)
快速溫變控溫卡盤(pán)
數(shù)據(jù)中心液冷解決方案
型號(hào) | FLT-002 | FLT-003 | FLT-004 | FLT-006 | FLT-008 | FLT-010 | FLT-015 |
FLT-002W | FLT-003W | FLT-004W | FLT-006W | FLT-008W | FLT-010W | FLT-015W | |
溫度范圍 | 5℃~40℃ | ||||||
控溫精度 | ±0.1℃ | ||||||
流量控制 | 10~25L/min 5bar max | 15~45L/min 6bar max | 25~75L/min 6bar max | ||||
制冷量at10℃ | 6kw | 8kw | 10kw | 15 kw | 20kw | 25kw | 40kw |
內(nèi)循環(huán)液容積 | 4L | 5L | 6L | 8L | 10L | 12L | 20L |
膨脹罐容積 | 10L | 10L | 15L | 15L | 20L | 25L | 35L |
制冷劑 | R410A | ||||||
載冷劑 | 硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等 (DI溫度需要控制10℃以上) | ||||||
進(jìn)出接口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 |
冷卻水口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 | ZG1 | ZG1 1/8 |
冷卻水流量at20℃ | 1.5m3/h | 2m3/h | 2.5m3/h | 4m3/h | 4.5m3/h | 5.6m3/h | 9m3/h |
電源380V | 3.5kW | 4kW | 5.5kW | 7kW | 9.5kW | 12kW | 16kW |
溫度擴(kuò)展 | 通過(guò)增加電加熱器,擴(kuò)展-25℃~80℃ |
-65循環(huán)風(fēng)控溫裝置 射流式?低溫沖擊測(cè)試機(jī)
-65循環(huán)風(fēng)控溫裝置 射流式?低溫沖擊測(cè)試機(jī)
射流式高低溫沖擊測(cè)試機(jī)給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環(huán)境溫度。
是對(duì)產(chǎn)品電性能測(cè)試、失效分析、可靠性評(píng)估的儀器設(shè)備。
溫度控制范圍:-120℃ 至+300℃,升降溫速率???焖伲?50℃?-55℃<10秒,zui??流量:30m3/h;
實(shí)時(shí)監(jiān)控被測(cè)IC真實(shí)溫度,實(shí)現(xiàn)閉環(huán)反饋,實(shí)時(shí)調(diào)整?體溫度升降溫時(shí)間可控,程序化操作、?動(dòng)操作、遠(yuǎn)程控制
電源管理芯片溫度測(cè)試系統(tǒng)是用于測(cè)試半導(dǎo)體芯片在不同溫度環(huán)境下的性能和可靠性的重要設(shè)備,在選購(gòu)這類(lèi)測(cè)試設(shè)備時(shí),需要考慮以下幾個(gè)要點(diǎn):
1、溫度范圍:根據(jù)測(cè)試需求,確定所需測(cè)試的溫度范圍。電源管理芯片溫度測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)能夠在一定范圍內(nèi)提供穩(wěn)定的溫度控制,以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。
2、測(cè)試樣品尺寸:考慮將要測(cè)試的半導(dǎo)體芯片的尺寸和形狀,確保測(cè)試樣品能夠正確地安裝到測(cè)試機(jī)中,并且不會(huì)受到機(jī)械應(yīng)力或過(guò)熱的影響。
3、溫度穩(wěn)定性:電源管理芯片溫度測(cè)試系統(tǒng)的溫度穩(wěn)定性對(duì)其測(cè)試結(jié)果有很大影響。應(yīng)選擇能夠在所需溫度范圍內(nèi)保持穩(wěn)定溫度的測(cè)試機(jī),以保證測(cè)試結(jié)果的可靠性。
4、加熱和冷卻速度:加熱和冷卻速度會(huì)影響測(cè)試效率,特別是對(duì)于需要快速溫度變化的測(cè)試。選擇具有快速加熱和冷卻能力的測(cè)試機(jī)可以縮短測(cè)試時(shí)間,提升工作效率。
5、溫度均勻性:測(cè)試機(jī)內(nèi)部各個(gè)位置的溫度應(yīng)盡可能均勻,以確保所有測(cè)試樣品在相同的溫度條件下進(jìn)行測(cè)試。這將有助于獲得準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果,并避免因溫度不均而導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果的可重復(fù)性差。
6、控制系統(tǒng):選擇冠亞制冷控制系統(tǒng)的電源管理芯片溫度測(cè)試系統(tǒng),以確保能夠準(zhǔn)確控制溫度并實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)溫度變化。此外,易于操作的用戶(hù)界面也是選購(gòu)時(shí)需要考慮的因素之一,以便于操作人員快速上手并執(zhí)行測(cè)試。
7、可靠性:電源管理芯片溫度測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)具有高的可靠性和穩(wěn)定性,能夠長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)工作并保持準(zhǔn)確的溫度控制。選購(gòu)時(shí),應(yīng)考慮選擇品牌和經(jīng)過(guò)嚴(yán)格質(zhì)量控制的設(shè)備,以確保其性能和可靠性。